Extended backside-illuminated InGaAs on GaAs IR detectors

Joachim John, Lars Zimmermann, Patrick Merken, Gustaaf Borghs, Chris Van Hoof, Stefan Nemeth

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan een tijdschriftCongresartikelpeer review

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Extended backside-illuminated InGaAs on GaAs IR detectors'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Physics

Engineering