Doorgaan naar hoofdnavigatie Doorgaan naar zoeken Ga verder naar hoofdinhoud

Characterization of a microwave reflectometer for edge density profile measurements at the ICRH antenna on Wendelstein 7-X

Activiteit: Conferentie of presentatiePresentatie van een poster van wetenschappelijke aard

Periode7 apr. 202510 apr. 2025
Evenementstitel6th European Conference on Plasma Diagnostics (ECPD)
EvenementstypeCongres
LocatiePrague, TsjechiëToon op kaart
Mate van erkenningInternationaal