Résumé
A 320 × 256 element hybrid infrared array is presented which consists of In0.78Ga0.22As photodiodes grown by molecular beam epitaxy on a GaAs substrate. The interconnection yield of the hybrid indium-bump process is above 97%. Electro-optical sensor characteristics are discussed.
| langue originale | Anglais |
|---|---|
| Pages (de - à) | 588-590 |
| Nombre de pages | 3 |
| journal | Electronics Letters |
| Volume | 38 |
| Numéro de publication | 12 |
| Les DOIs | |
| état | Publié - 6 juin 2002 |
Empreinte digitale
Examiner les sujets de recherche de « Extended-wavelength InGaAs-on-GaAs infrared focal-plane array ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.Contient cette citation
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