Extended backside-illuminated InGaAs on GaAs IR detectors

Joachim John, Lars Zimmermann, Patrick Merken, Gustaaf Borghs, Chris Van Hoof, Stefan Nemeth

Résultats de recherche: Contribution à un journalArticle de conférenceRevue par des pairs

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Extended backside-illuminated InGaAs on GaAs IR detectors ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

Physics

Engineering