A cryogenic ADC operating down to 4.2K

Ybe Cretan, Patrick Merken, Willy Sansen, Robert Mertens, Chris Van Hoof

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Résumé

A SAR ADC is designed to operate from room temperature down to 4.2K, as needed by cryogenic sensor systems. The ADC is robust to cryogenic temperature-induced transistor anomalies. It has an INL of -0.8(0.5)LSB and DNL of 1.1 (0.4)LSB at 4.2K(300K). It draws 70μA for a 200pF output capacitor at 3kHz sampling rate and 5V supply.

langue originaleAnglais
titre2007 IEEE International Solid-State Circuits Conference, ISSCC - Digest of Technical Papers
EditeurInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Pages468-470
Nombre de pages3
ISBN (imprimé)1424408539, 9781424408535
Les DOIs
étatPublié - 2007
Evénement54th IEEE International Solid-State Circuits Conference, ISSCC 2007 - San Francisco, CA, États-Unis
Durée: 11 févr. 200715 févr. 2007

Série de publications

NomDigest of Technical Papers - IEEE International Solid-State Circuits Conference
ISSN (imprimé)0193-6530

Une conférence

Une conférence54th IEEE International Solid-State Circuits Conference, ISSCC 2007
Pays/TerritoireÉtats-Unis
La villeSan Francisco, CA
période11/02/0715/02/07

Empreinte digitale

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