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Characterization of a microwave reflectometer for edge density profile measurements at the ICRH antenna on Wendelstein 7-X

Activité: Conférence ou présentationPrésentation d'un poster à caractère scientifique

Période7 avr. 202510 avr. 2025
Titre de l'événement6th European Conference on Plasma Diagnostics (ECPD)
Type d'événementUne conférence
EmplacementPrague, République tchcqueAfficher sur la carte
Degré de reconnaissanceInternational