Characterization of a microwave reflectometer for edge density profile measurements at the ICRH antenna on Wendelstein 7-X
- Lopez Rodriguez, L. (Présentateur du poster)
- A. Krämer-Flecken (Co-auteur)
- H. M. Xiang (Co-auteur)
- Crombé, K. (Co-auteur)
- Ongena, J. (Co-auteur)
- Castano Bardawil, D. (Co-auteur)
- B. Schweer (Co-auteur)
- Verstraeten, M. (Co-auteur)
- Vervier, M. (Co-auteur)
- Dumortier, P. (Co-auteur)
- Ivan Stepanov (Co-auteur)
- X. Han (Co-auteur)
- D. Hartmann (Co-auteur)
Activité: Conférence ou présentation › Présentation au cours d'un séminaire à caractère scientifique