Extended backside-illuminated InGaAs on GaAs IR detectors

Joachim John, Lars Zimmermann, Patrick Merken, Gustaaf Borghs, Chris Van Hoof, Stefan Nemeth

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzartikel › Begutachtung

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Extended backside-illuminated InGaAs on GaAs IR detectors“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

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