Compressed sensing and defect-based dictionaries for characteristics extraction in mm-Wave non-destructive testing

Edison Cristofani, Mathias Becquaert, Gokarna Pandey, Marijke Vandewal, Nikos Deligiannis, Johan Stiens

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Konferenzbeitrag › Begutachtung

Fingerprint

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