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Characterization of a microwave reflectometer for edge density profile measurements at the ICRH antenna on Wendelstein 7-X

Aktivität: Gespräch oder VortragScientific poster presentation

Zeitraum7 Apr. 202510 Apr. 2025
Ereignistitel6th European Conference on Plasma Diagnostics (ECPD)
VeranstaltungstypKonferenz
OrtPrague, Tschechische RepublikAuf Karte anzeigen
BekanntheitsgradInternational